任何高精儀器都考研其性能,,優(yōu)異性能的ICP光譜儀做篩選檢測(cè)時(shí)可以準(zhǔn)確排查是否合格,,將空白空間縮小;
有些ICP光譜儀對(duì)有些相似金屬識(shí)別率較低或者誤判,比如鎘譜線與X光管銠的電極征譜線重疊。甚至不能準(zhǔn)確測(cè)定鎘;
由于性能不足,,可能發(fā)生錯(cuò)判,、誤判,、無(wú)法判定等事件頻發(fā),,不確定的灰色部分比例大增。其后果必然是成本顯著提高、風(fēng)險(xiǎn)增加,。
大部分ICP光譜儀的檢測(cè)穩(wěn)定性受到X光管老化,、環(huán)境溫度、電源波動(dòng)等影響,,使數(shù)值不準(zhǔn),,有的ICP光譜儀X射線漏泄嚴(yán)重,危及操作人員的安全,。
ICP光譜儀的關(guān)鍵性能
一,、X線束光斑直徑
A.光斑直徑大小在使用中會(huì)體現(xiàn)出一些差別。目前光斑直徑從0.1mm到15mm不等,。光斑小不受試樣面積限制,,光斑大受材料不均勻性影響小。
二,、檢測(cè)器
A.SDD:新型的SDD檢測(cè)器屬高純硅檢測(cè)器,,穩(wěn)定性好,檢測(cè)靈敏度高,。
B.SSD:老款的SSD檢測(cè)器屬硅鋰檢測(cè)器,,漂移大,,檢測(cè)靈敏度低,。
三、 X光管的電極材料
目前X線熒光ICP光譜儀基本上采用銠靶X光管,,個(gè)別有鎢靶X光管的,。
四、檢測(cè)方法和軟件
A.帶補(bǔ)正的相對(duì)檢量線法:可以自動(dòng)補(bǔ)償環(huán)境條件變化,、供電變化,、X管老化等對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)的影響。
B.FP法,、部分檢量線法:穩(wěn)定性差,。
C.光斑大小間接反映X光束的能效。大光斑(幾mm到十幾mm)通常采用準(zhǔn)直器整理光束,,被遮擋部分白白浪費(fèi)掉;1mm以下小光斑采用導(dǎo)管整理光束,,能量損失較少。
D.光斑大小根據(jù)實(shí)際測(cè)量需要選擇,,光束能量損失通常制造商在軟件,、濾光片等方面做適當(dāng)補(bǔ)償。