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ICP-AES,、ICP-MS與原子吸收GFAAS檢測(cè)比較
點(diǎn)擊次數(shù):0 發(fā)布時(shí)間:2015-11-02
 

 誘人的ICP-AES的流行使很多的分析家在問購(gòu)買一臺(tái)ICP-AES是否是明智之舉,,還是留在原來可信賴的AAS上�,,F(xiàn)在一個(gè)新技術(shù)ICP-MS已呈現(xiàn)在世上,雖然價(jià)格較高,,但ICP-MS具有ICP-AES的優(yōu)點(diǎn)及比石墨爐原子吸收GFAAS)更低的檢出限,。

    這篇文章簡(jiǎn)要地論述這三種技術(shù),并指出如何根據(jù)你的分析任務(wù)來判斷其適用性的主要標(biāo)準(zhǔn),。

    對(duì)于擁有ICP-AES技術(shù)背景的人來講,,ICP-MS是一個(gè)以質(zhì)譜儀作為檢測(cè)器的等離子體(ICP),,而質(zhì)譜學(xué)家則認(rèn)為ICP-MS是一個(gè)以ICP為源的質(zhì)譜儀。事實(shí)上,,ICP-AESICP-MS的進(jìn)樣部分及等離子體是及其相似的,。ICP-AES測(cè)量的是光學(xué)光譜165800nm),ICP-MS測(cè)量的是離子質(zhì)譜,,提供在3250 amu范圍內(nèi)每一個(gè)原子質(zhì)量單位(amu)的信息,,因此,ICP-MS除了元素含量測(cè)定外,,還可測(cè)量同位素,。


檢出限

    ICP-MS的檢出限給人極深刻的印象,其溶液的檢出限大部份為ppt級(jí)(必需記牢,,實(shí)際的檢出限不可能優(yōu)于你實(shí)驗(yàn)室的清潔條件),,石墨爐AAS的檢出限為亞ppb級(jí), ICP-AES大部份元素的檢出限為110ppb,,一些元素在潔凈的試樣中也可得到令人注目的亞ppb級(jí)的檢出限,。必須指出,ICP-MSppt級(jí)檢出限是針對(duì)溶液中溶解物質(zhì)很少的單純?nèi)芤憾缘�,,若涉及固體中濃度的檢出限,,由于ICP-MS的耐鹽量較差,ICP-MS檢出限的優(yōu)點(diǎn)會(huì)變差多達(dá)50倍,,一些普通的輕元素(如S,、 Ca Fe ,、K,、 Se)在ICP-MS中有嚴(yán)重的干擾,也將惡化其檢出限,。

 

干擾

    以上三種技術(shù)呈現(xiàn)了不同類型及復(fù)雜的干擾問題,,為此,我們對(duì)每個(gè)技術(shù)分別予以討論,。

ICP-MS的干擾

1.質(zhì)譜干擾

    ICP-MS中質(zhì)譜的干擾(同量異位素干擾)是預(yù)知的,,而且其數(shù)量少于300個(gè),分辯率為0.8amu的質(zhì)譜儀不能將它們分辯開,,例如58Ni 對(duì)58Fe,、40Ar對(duì)40Ca40Ar16O對(duì)56Fe40Ar-Ar對(duì)80Se的干擾(質(zhì)譜疊加),。元素校正方程式(與ICP-AES中干擾譜線校正相同的原理)可用來進(jìn)行校正,,選擇性地選用一些低自然豐度的同位素、采用冷等離子體炬焰屏蔽技術(shù)碰撞池技術(shù)可有效地降低干擾影響,。

2.基體酸干擾

    必須指出,,HCl ,、HClO4H3PO4H2SO4將引起相當(dāng)大的質(zhì)譜干擾,。Cl+,、P+S+離子將與其他基體元素Ar+,、O+,、H+結(jié)合生成多原子,例如35Cl40Ar對(duì)75As ,、35Cl16O對(duì)51V的疊加干擾,。因此在ICP-MS的許多分析中避免使用HCl HClO4,、H3PO4H2SO4是至關(guān)重要的,,但這是不可能的�,?朔@個(gè)問題的方法有:碰撞池技術(shù),、在試樣導(dǎo)入ICP之前使用色譜(微栓)分離、電熱蒸發(fā)(ETV)技術(shù)等,,另外一個(gè)比較昂貴的選擇是使用高分辨率的扇形磁場(chǎng)的ICP-MS,它具有分辨小于0.01amu的能力,,可以清除許多質(zhì)譜的干擾,。
ICP-MS
分析用的試液通常用硝酸來配制。

3.雙電荷離子干擾

    雙電荷離子產(chǎn)生的質(zhì)譜干擾是單電荷離子M/Z的一半,,例如138Ba2+對(duì)69Ga+,,或208Pb2+對(duì)104Ru+。這類干擾是比較少的,,而且可以在進(jìn)行分析前將系統(tǒng)最佳化而有效地消除,。

4.基體效應(yīng)

    試液與標(biāo)準(zhǔn)溶液粘度的差別將改變各個(gè)溶液產(chǎn)生氣溶膠的效率,采用基體匹配法或內(nèi)標(biāo)法可有效地消除,。

5.電離干擾

    電離干擾是由于試樣中含有高濃度的第I族和第II族元素而產(chǎn)生的,,采用基體匹配、稀釋試樣,、標(biāo)準(zhǔn)加入法,、同位素稀釋法、萃取或用色譜分離等措施來解決是有效的,。

6.空間電荷效應(yīng)

    空間電荷效應(yīng)主要發(fā)生在截取錐的后面,,在此處的凈電荷密度明顯的偏離了零。高的離子密度導(dǎo)致離子束中的離子之間的相互作用,,形成重離子存在時(shí)首先損失掉輕離子,,例如Pb+對(duì)Li3+,。基體匹配或仔細(xì)在被測(cè)物質(zhì)的質(zhì)量范圍內(nèi)選用內(nèi)標(biāo)有助于補(bǔ)嘗這個(gè)影響,,但這在實(shí)際應(yīng)用是有困難的,。同位素稀釋法雖有效,,但費(fèi)用高,,簡(jiǎn)單而最有效的方法是稀釋樣品。


ICP-AES干擾

1.光譜干擾

  ICP-AES的光譜干擾其數(shù)量很大而較難解決,,有記錄的ICP-AES的光譜譜線有50000多條,,而且基體能引起相當(dāng)多的問題,。因此,對(duì)某些樣品例如鋼鐵,、化工產(chǎn)品及巖石的分析必須使用高分辯率的光譜儀,。廣泛應(yīng)用于固定通道ICP-AES中的干擾元素校正能得到有限度的成功。ICP-AES中的背景較高,,需離線背景校正,,應(yīng)用動(dòng)態(tài)背景校正對(duì)增進(jìn)準(zhǔn)確度是很有效的。各種分子粒子(如OH)的譜峰或譜帶對(duì)某些低含量的被測(cè)元素會(huì)引起一些分析問題,,影響其在實(shí)際樣品中檢出限,。

    ICP-MS中的背景是相當(dāng)?shù)偷模湫偷氖切∮?/span>5 C/S(計(jì)數(shù)/秒),,這就是ICP-MS具有極好的檢出限的一個(gè)主要理由,。

2.基體效應(yīng)

    ICP-MS一樣,ICP-AES可以應(yīng)用內(nèi)標(biāo)來解決例如霧化室效應(yīng),、試樣與標(biāo)準(zhǔn)溶液之間粘度差異所帶來的基體效應(yīng),。

3.電離干擾
   
仔細(xì)選用每個(gè)元素的分析條件或加入電離緩衡劑(如過量的 I 族元素)可以減少易電離元素的影響。


GFAAS干擾

1.光譜干擾

    使用氘燈背景校正的GFAAS有少許光譜干擾,,但使用Zeeman 背景校正的GFAAS能去除這些干擾,。

2.背景干擾

    在原子化過程中,針對(duì)不同的基體,,應(yīng)仔細(xì)設(shè)定灰化步聚的條件以減少背景信號(hào),。采用基體改進(jìn)劑有助于增加可以容許的灰化溫度。在很多GFAAS應(yīng)用中,,與氘燈扣背景相比,,Zeeman扣背景可得到更好的準(zhǔn)確度。

3.氣相干擾

這是由于被測(cè)物質(zhì)的原子蒸汽進(jìn)入一個(gè)較冷的氣體環(huán)境而形成的�,,F(xiàn)在采用等溫石墨管設(shè)計(jì)和平臺(tái)技術(shù),,試樣被原子化后進(jìn)入一個(gè)熱的惰性氣體環(huán)境,可有效減少這種干擾。

4.基體效應(yīng)

基體效應(yīng)是被測(cè)物質(zhì)在石墨管上不同的殘留而生成的,,它取決于樣品的種類,,應(yīng)用基體改性劑和熱注射能十分有效地減少這些影響。


容易使用

      在日常工作中,,從自動(dòng)化來講,,ICP-AES是最成熟的,可由技術(shù)不熟練的人員來應(yīng)用ICP-AES專家制定的方法進(jìn)行工作,。ICP-MS的操作直到現(xiàn)在仍較為復(fù)雜,,自1993年以來,盡管在計(jì)算機(jī)控制和智能化軟件方面有很大的進(jìn)步,,但在常規(guī)分析前仍需由技術(shù)人員進(jìn)行精密調(diào)整,,ICP-MS的方法研究也是很復(fù)雜及耗時(shí)的工作。GFAAS的常規(guī)工作雖然是比較容易的,,但制定方法仍需要相當(dāng)熟練的技術(shù),。

 

試樣中的總固體溶解量TDS

    在常規(guī)工作中,ICP-AES可分析10%TDS的溶液,,甚至可以高至30%的鹽溶液,。在短時(shí)期內(nèi)ICP-MS可分析0.5%的溶液,但大部分分析人員樂于采用最多0.2%TDS的溶液,。當(dāng)原始樣品是固體時(shí),,與ICP-AESGFAAS相比,,ICP-MS需要更高倍數(shù)的稀釋,,其折算到原始固體樣品中的檢出限顯示不出很大優(yōu)勢(shì)的現(xiàn)象也就不令人驚奇了。

 

線性動(dòng)態(tài)范圍LDR

    ICP-MS具有超過105LDR,,各種方法可使其LDR開展至108,但不管如何,,對(duì)ICP-MS來說:高基體濃度會(huì)導(dǎo)致許多問題,,而這些問題的最好解決方案是稀釋,正由于這個(gè)原因,,ICP-MS應(yīng)用的主要領(lǐng)域在痕量/超痕量分析,。

    GFAASLDR限制在102103,如選用次靈敏線可進(jìn)行高一些濃度的分析,。
   
    ICP-AES
具有105以上的LDR且抗鹽份能力強(qiáng),,可進(jìn)行痕量及主量元素的測(cè)定,ICP-AES可測(cè)定的濃度高達(dá)百分含量,,因此,,ICP-AES外加ICP-MS,或GFAAS可以很好地滿足實(shí)驗(yàn)室的需要。

 

精密度

    ICP-MS的短期精密度一般是13% RSD,,這是應(yīng)用多內(nèi)標(biāo)法在常規(guī)工作中得到的,。長(zhǎng)期(幾個(gè)小時(shí))精密度為小于5%RSD。使用同位素稀釋法可以得到很好的準(zhǔn)確度和精密度,,但這個(gè)方法的費(fèi)用對(duì)常規(guī)分析來講是太貴了,。

    ICP-AES的短期精密度一般為0.32%RSD,幾個(gè)小時(shí)的長(zhǎng)期精密度小于3%RSD,。

    GFAAS的短期精密度為0.55%RSD,,長(zhǎng)期精密度的因素不在于時(shí)間而視石墨管的使用次數(shù)而定。

 

樣品分析能力

    ICP-MS有驚人的能力來分析大量測(cè)定痕量元素的樣品,,典型的分析時(shí)間為每個(gè)樣品小于5分鐘,,在某些分析情況下只需2分鐘。Consulting實(shí)驗(yàn)室認(rèn)為ICP-MS的主要優(yōu)點(diǎn)即是其分析能力,。

    ICP-AES的分析速度取決于是采用全譜直讀型還是單道掃描型,,每個(gè)樣品所需的時(shí)間為26分鐘,全譜直讀型較快,,一般為2分鐘測(cè)定一個(gè)樣品,。

    GFAAS的分析速度為每個(gè)樣品中每個(gè)元素需34分鐘,晚上可以自動(dòng)工作,,這樣保證對(duì)樣品的分析能力,。

根據(jù)溶液的濃度舉例如下,以參考:

  1. 每個(gè)樣品測(cè)定13個(gè)元素,,元素濃度為亞或低于ppb級(jí),,如果被測(cè)元素要求能滿足的情況下,GFAAS是最合適的,。

  2. 每個(gè)樣品520個(gè)元素,,含量為亞ppm%ICP-AES是最合適的,。

  3. 每個(gè)樣品需測(cè)4個(gè)以上的元素,,在亞ppbppb含量,而且樣品的量也相當(dāng)大,,ICP-MS是較合適的,。


無人控制操作

    ICP-MSICP-AES,,和GFAAS,,由于現(xiàn)代化的自動(dòng)化設(shè)計(jì)以及使用惰性氣體的安全性,可以整夜無人看管工作,。

    為了高的分析生產(chǎn),,整夜開機(jī)工作是可取的。

 

運(yùn)行的費(fèi)用

    ICP-MS開機(jī)工作的費(fèi)用要高于ICP-AES,因?yàn)?/span>ICP-MS的一些部件有一定的使用壽命而且需要更換,,這些部件包括了渦輪分子泵,、取樣錐和截取錐以及檢測(cè)器。對(duì)于ICP-MSICP-AES來講,,霧化器與炬管的壽命是相同的,。如果實(shí)驗(yàn)室選用了ICP-AES來取代ICP-MS,那么實(shí)驗(yàn)室最好能配備GFAAS,。GFAAS應(yīng)計(jì)算其石墨管的費(fèi)用,。在上述三種技術(shù)中Ar氣的費(fèi)用是一筆相當(dāng)?shù)念A(yù)算,ICP技術(shù)Ar費(fèi)用遠(yuǎn)高于GFAAS,。

 

基本費(fèi)用

    這是很難于限定的一個(gè)項(xiàng)目,,因?yàn)橘M(fèi)用是根據(jù)自動(dòng)化程度、附件與供應(yīng)商而定的,。大概的估計(jì)ICP-AESGFAAS的兩倍,,而ICP-MS ICP-AES的兩倍。必須注意到附件的配置將打亂費(fèi)用的估計(jì),。

    另外必須考慮到超痕量分析需要一個(gè)干凈的實(shí)驗(yàn)室和超純的化學(xué)試劑,,這些的費(fèi)用不便宜。

 

附件

    由于是快速掃描測(cè)定方式,,ICP-MS能對(duì)多元素模式中的瞬間信號(hào)進(jìn)行測(cè)量,,這就為大量附件打開了出路,電熱蒸法,、激光消蝕,、輝光放電及火花消蝕可以免除樣品的溶解過程。有些附件可以將樣品中的基體物質(zhì)進(jìn)行分離或進(jìn)行預(yù)富集,,例如:氫化法,、色譜(高壓液相HPLC,離子色譜,,微柱)等技術(shù),。

    用色譜來分離的好處在ICP-MS中得到完全的實(shí)現(xiàn),它適合用于環(huán)保,,毒理學(xué),藥品及食品中低濃度的被測(cè)物質(zhì),。

    雖然ICP-AES也能采用上述的某些附件,,但由于這些附件的價(jià)格及有限的好處,因此,,很少看到它們?cè)?/span>ICP-AES的常規(guī)分析中應(yīng)用,。


概要

    對(duì)購(gòu)買哪一種儀器提出建議是困難的,但根據(jù)你現(xiàn)在及將來工作的需要,回答列表1中的問題,,將有助于你作出決定,。

    必需記著沒有一種技術(shù)能滿足你所有的要求,這些技術(shù)是相互補(bǔ)充的,,永遠(yuǎn)存在某一種技術(shù)稍優(yōu)于另一種技術(shù)的地方,。

    2是這三種技術(shù)簡(jiǎn)單比較,表3是檢出限的比較,。

1 對(duì)分析要求的核對(duì)表  

1.每星期有多少樣品需分析?
2
.樣品是那一種類別的(鋼鐵,、巖石、地面水,、土壤等),?
3
.應(yīng)用那種分解方法?
4
.多少元素,、那些元素需要測(cè)定,?
5
.元素的濃度范圍?
6
.可采用的試液的體積是多少,?
7
.要考慮那些選購(gòu)件及附件,?
8
.同位素的測(cè)定對(duì)你是否重要?
9
.有多少購(gòu)買資金或每月的租金,?
10
.為了滿足分析的需要日常開機(jī)的運(yùn)行及基本費(fèi)用有多少,?
11
.你有怎么樣技術(shù)水平的工作人員?

2  ICP-MS, ICP-AES, GFAAS的簡(jiǎn)單比較

ICP-MS

ICP-AES

Flame AAS

GFAAS

檢出限

絕大部分元素非常杰出

絕大部分元素很好

部分元素較好

部分元素非常杰出

樣品分析能力

每個(gè)樣品的所有元素 2-6分鐘

每分鐘每個(gè)樣品的5-30個(gè)元素

每個(gè)樣品每個(gè)元素15

每個(gè)樣品每個(gè)元素 4分鐘

線性動(dòng)態(tài)范圍

108

105

103

102

精密度短期長(zhǎng)期(4小時(shí))

13%< 5%使用內(nèi)標(biāo)可改善精密度

0.32%< 3%

0.11%

15%

干擾光(質(zhì))譜化學(xué)(基體)電離質(zhì)量效應(yīng)同位素

少中等很少高的對(duì)低的影響?

多幾乎沒有很少不存在無

幾乎沒有多有一些不存在無

少多很少不存在無

固體溶解量(最大可容忍量)

0.1-0.4%

2-25%

0.5-3%

>20%

可測(cè)元素?cái)?shù)

> 75

>73

> 68

 >50

樣品用量

很多

很少

半定量分析

不能

不能

同位素分析

不能

不能

不能

日常操作

容易

容易

容易

容易

方法試驗(yàn)開發(fā)

需要專業(yè)技術(shù)

需專業(yè)技術(shù)

容易

需專業(yè)技術(shù)

無人控制操作

不能

易燃?xì)怏w

操作費(fèi)用

中等

基本費(fèi)用

很高

中等/

 

 

 

 

檢出限比較表(µg/L

Element

ICP-MS

ICP-AES

Flame AAS

GFAAS

As

<0.050

<10

<500

<1

Al

<0.010

<4

<50

<0.5

Ba

<0.005

<0.2

<50

<1.5

Be

<0.050

<0.2

<5

<0.05

Bi

<0.005

<10

<100

<1

Cd

<0.010

<1

<5

<0.03

Ce

<0.005

<15

<200000

ND

Co

<0.005

<2

<10

<0.5

Cr

<0.005

<3

<10

<0.15

Cu

<0.010

<2

<5

<0.5

Gd

<0.005

<5

<4000

ND

Ho

<0.005

<2

<80

ND

In

<0.010

<10

<80

<0.5

La

<0.005

<1

<4000

ND

Li

<0.020

<1

<5

<0.5

Mn

<0.005

<0.5

<5

<0.06

Ni

<0.005

<2

<20

<0.5

Pb

<0.005

<10

<20

<0.5

Se

<0.10

<10

<1000

<1.0

Tl

<0.010

<10

<40

<1.5

U

<0.010

<20

<100000

ND

Y

<0.005

<0.5

<500

ND

Zn

<0.02

<0.5

<2

<0.01

 

ICP-MS, ICP-AES及火焰AAS的檢出限的定義為:空白的三倍標(biāo)準(zhǔn)偏差,。

GFAAS:靈敏度(0.0044吸光度) 20ul樣品進(jìn)行測(cè)量,。

 

聯(lián)系人:李先生
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