設(shè)為首頁
加入收藏
聯(lián)系我們
光譜儀的誤差來源在哪？接下來由原子發(fā)射光譜儀的小編為大家講解一下：
光電直讀光譜儀雖然本身測量準(zhǔn)確度很高，但測定試樣中元素含量時,， 所得結(jié)果與真實含量通常不一致,，存在一定誤差,，并且受諸多因素的影響,，有的材料本身含量就很低。下面就誤差的種類,、來源及如何避免誤差進(jìn)行分析,。
根據(jù)誤差的性質(zhì)及產(chǎn)生原因， 誤差可分為下面幾種：
1.系統(tǒng)誤差的來源
(1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時,，可能引起基體線和分析線的強度改變,，從而引入誤差。
(2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時,，激發(fā)的特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差,。
(3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火,、回火,、熱軋,、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時，測出的數(shù)據(jù)會有所差別,。
(4)未知元素譜線的重疊干擾,。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時,，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差,。
(5)要消除系統(tǒng)誤差，必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求,。為了檢查系統(tǒng)誤差,，就需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對結(jié)果。
2.偶然誤差的來源
與樣品成分不均勻有關(guān)的誤差,。因為光電光譜分析所消耗的樣品很少,，樣品中元素分布的不均勻性、組織結(jié)構(gòu)的不均勻性,，導(dǎo)致不同部位的分析結(jié)果不同而產(chǎn)生偶然誤差,。主要原因如下：
(1)熔煉過程中帶入夾雜物,，產(chǎn)生的偏析等造成樣品元素分布不均,。
(2)試樣的缺陷、氣孔,、裂紋,、砂眼等。
(3)磨樣紋路交叉,、試樣研磨過熱,、試樣磨面放置時間太長和壓上指紋等因素。
(4)要減少偶然誤差,，就要精心取樣,，消除試樣的不均勻性及試樣的鑄造缺陷，也可以重復(fù)多次分析來降低分析誤差,。
3.其他因素誤差
(1)氬氣不純,。當(dāng)氬氣中含有氧和水蒸氣時，會使激發(fā)斑點變壞,。如果氬氣管道與電極架有污染物排不出去,，分析結(jié)果會變差。
(2)室內(nèi)溫度的升高會增加光電倍增管的暗電流,，降低信噪比,。濕度大容易導(dǎo)致高壓元件發(fā)生漏電、放電現(xiàn)象,，使分析結(jié)果不穩(wěn)定,。
